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TEM原位拉伸與360°水平旋轉(zhuǎn)樣樣品桿 PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對(duì)材料施加拉力，結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。
原位MEMS加熱電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級(jí)空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測(cè)量或全溫區(qū)測(cè)量功能。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測(cè)量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測(cè)條件。
原位STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測(cè)量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
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